Différence entre AFM et STM Différence entre
AFM se réfère à Microscope à force atomique et STM se réfère à Scanning Tunneling Microscope. Le développement de ces deux microscopes est considéré comme une révolution dans les domaines atomique et moléculaire.
Lorsqu'on parle d'AFM, il capture des images précises en déplaçant une pointe de taille nanométrique sur la surface de l'image. Le STM capture des images en utilisant un tunnel quantique.
Sur les deux microscopes, le microscope à balayage à balayage a été le premier à être développé.
Contrairement à la STM, la sonde établit un contact direct avec la surface ou calcule la liaison chimique naissante dans l'AFM. Les images STM indirectement en calculant le tunnel quantique entre la sonde et l'échantillon.
Une autre différence que l'on peut voir est que la pointe de l'AFM touche la surface touche doucement la surface alors qu'en STM, l'extrémité est maintenue à une courte distance de la surface.
Contrairement au STM, l'AFM ne mesure pas le courant de creusement, mais mesure seulement la petite force entre la surface et la pointe.
On a également vu que la résolution AFM est meilleure que la STM. C'est pourquoi l'AFM est largement utilisé dans la nanotechnologie. Quand on parle de la dépendance entre la force et la distance, l'AFM est plus complexe que la STM.
Lorsque le microscope à effet tunnel est normalement applicable aux conducteurs, le microscope à force atomique est applicable aux conducteurs et aux isolateurs. L'AFM convient bien aux environnements liquides et gazeux, tandis que STM fonctionne uniquement sous vide poussé.
Par rapport à STM, l'AFM donne une mesure directe de la hauteur directe du contraste topographique et de meilleures caractéristiques de surface.
Résumé
1. L'AFM capture des images précises en déplaçant une pointe de taille nanométrique sur la surface de l'image. Le STM capture des images en utilisant un tunnel quantique.
2. La sonde établit un contact direct avec la surface ou calcule la liaison chimique naissante dans l'AFM. Les images STM indirectement en calculant le tunnel quantique entre la sonde et l'échantillon.
3. La pointe de l'AFM touche la surface touche doucement la surface alors qu'en STM, l'extrémité est maintenue à une courte distance de la surface.
4. La résolution AFM est meilleure que la STM. C'est pourquoi l'AFM est largement utilisé dans la nanotechnologie.
5. Lorsque le microscope à effet tunnel à balayage est normalement applicable aux conducteurs, le microscope à force atomique est applicable aux conducteurs et aux isolateurs.
6. L'AFM convient bien aux environnements liquides et gazeux, tandis que STM fonctionne uniquement sous vide poussé.
7. Parmi les deux microscopes, le microscope à balayage à balayage a été le premier à être développé.
